WLP-216平均粒度儀是一種廣泛應(yīng)用于顆粒物料測量和分析的儀器與時俱進，適用于各類物質(zhì)的粒度分布應用、顆粒形態(tài)等特性參數(shù)的測量。主要采用光散射原理進(jìn)行分析測試更優質。當(dāng)光線照射到樣品中的固體顆粒時成就，部分光線被顆粒所折射，部分光線被顆粒所散射項目。這些散射的光子會向各個方向發(fā)散多種方式，產(chǎn)生散射光，并呈現(xiàn)出不同的相位差實施體系。當(dāng)這些散射光聚集起來時臺上與臺下，就可以通過檢測儀器進(jìn)行信號捕捉和數(shù)據(jù)計(jì)算。
 

　　多角度散射指的是光線與顆粒發(fā)生散射時不同角度的變化技術創新。不同的角度對應(yīng)著不同的粒子大小效高性。多角度散射技術(shù)能夠提供更高的散射強(qiáng)度，從而提高粒度檢測的靈敏度和準(zhǔn)確度技術發展。同時也降低了顆粒形狀對檢測結(jié)果的影響重要的作用。樣品在進(jìn)行平均粒度儀測量之前需要經(jīng)過一定的處理。在液體顆粒的測試中自動化，需要進(jìn)行樣品制備重要的意義，在樣品中加入分散劑以避免顆粒聚集。在固體顆粒的測試中規模最大，需要將顆粒充分研磨或分散以達(dá)到更好的測試效果關註度。此外，還需要根據(jù)不同的顆粒特性選擇不同的測試模式和參數(shù)重要手段。
 

　　通過電子信號輸出的方式得出測試結(jié)果穩中求進。由于不同的粒子具有不同的屬性，因此從不同的角度進(jìn)行數(shù)據(jù)的收集不折不扣，并結(jié)合統(tǒng)計(jì)學(xué)原理進(jìn)行數(shù)據(jù)的加權(quán)平均再獲，得出測試結(jié)果穩定性，包括顆粒尺寸、顆粒形態(tài)等敢於挑戰。被廣泛應(yīng)用的先進(jìn)物料科學(xué)測試儀器之一資源優勢，它具有高精度、準(zhǔn)確性高就此掀開、自動化程度高等優(yōu)點(diǎn)能力，同時也成為了材料科學(xué)研究、生產(chǎn)工藝設(shè)計(jì)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的必要工具創造更多。

 

　　WLP-216平均粒度儀的維護(hù)保養(yǎng)方法：
 

　　1.在使用過程中會受到灰塵還不大、臟污等環(huán)境因素的影響，應(yīng)該定期將設(shè)備清洗干凈連日來。在清潔前需要斷開電源保障性，并根據(jù)說明書逐步進(jìn)行拆卸，將內(nèi)部的各個部件清理干凈信息化技術，避免出現(xiàn)遺漏領先水平。注意不得使插頭與插座接觸部位進(jìn)入水中。
 

　　2.傳感器是測量儀器精度的關(guān)鍵部件之一責任製。因此效率，在正式測量前，需要對傳感器進(jìn)行檢查雙重提升，確定其是否正確連接增強、靈敏度是否合理、觸點(diǎn)是否老化等情況結果，并進(jìn)行必要的處理戰略布局。
 

　　3.由于長時間使用，性能可能會發(fā)生變化規則製定。定期進(jìn)行儀器校準(zhǔn)以確保儀器始終按實(shí)際要求準(zhǔn)確測量講道理。在校準(zhǔn)儀器的過程中，需要用到標(biāo)準(zhǔn)樣品和校準(zhǔn)液表現明顯更佳，應(yīng)避免雜質(zhì)進(jìn)入樣品中更加廣闊。
 

　　4.對各個部件進(jìn)行逐條檢查，例如電纜技術先進、插頭等示範，注意是否有老化或破損現(xiàn)象，確認(rèn)設(shè)備使用情況良好數字化。